关于ttl门电路逻辑功能及参数的测试的信息
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本文目录一览:
- 1、验证ttl集成与非门74ls20的逻辑功能的实验为什么用四五组数据就可判断其逻辑
- 2、分析TTL门电路。急求。好的追加。
- 3、数字电路如何判断TTL门电路和CMOS门电路的输出逻辑状态?
- 4、数字逻辑实验中怎么检验芯片好坏??
- 5、数字逻辑实验报告的实验总结应该怎样写啊
- 6、评价ttl逻辑门电路的驱动能力的参数
验证ttl集成与非门74ls20的逻辑功能的实验为什么用四五组数据就可判断其逻辑
验证ttl集成与非门74ls20的逻辑功能的实验,用四五组数据就可判断其逻辑的原因:
集成电路74LS00是四2输入的与非门,即有四个2输入端的与非门,与非门的功能,是输入端A,B,全为1时,输出才为0,A,B只要有一个端输入0,输出就是1。根据这个逻辑关系就很容易测出74LS00的逻辑功能。
定义
与非门是与门和非门的结合,先进行与运算,再进行非运算。与非运算输入要求有两个,如果输入都用0和1表示的话,那么与运算的结果就是这两个数的乘积。如1和1(两端都有信号),则输出为0;1和0,则输出为1;0和0,则输出为1。与非门的结果就是对两个输入信号先进行与运算,再对此与运算结果进行非运算的结果。简单说,与非与非,就是先与后非。
分析TTL门电路。急求。好的追加。
如图所示:
(1)输入全为高电平3.6V时。T2 、T3导通,VB1=0.7×3=2.1(V),T1的发射结因反偏而截止。此时T1的发射结反偏,而集电结正偏,称为倒置放大工作状态。
由于T2导通,T3也饱和导通,输出电压为:Vo=Vces3≈0.3V。
此时Ve2=Vb3=0.7V,而Vce2=0.3V,于是Vc2=Vb2+ Vce2=1V。1V的电压作用于T4的基极,使T4的Vbe4=0,T4和二极管D都截止。
可见实现了与非门的逻辑功能之一:输入全为高电平时,输出为低电平。
(2)A输入低电平0.3V时。
T1发射结导通,T1的基极电位被钳位到Vb1=0.3V+0.7V=1V。T2、T3都截止。由于R2 的偏置作用,使T4和D导通,则有:
VO≈VCC-Vbe4-VD=5-0.7-0.7=3.6(V)。
(3)B输入低电平0.3V时。
由于T1和T'1一样接法,工作状态 同(2)A输入低电平时。
可见该电路实现了与非门的逻辑功能的另一状态:输入有低电平时,输出为高电平。
综合上述三种情况,该电路满足与非的逻辑功能,是一个与非门。
数字电路如何判断TTL门电路和CMOS门电路的输出逻辑状态?
(一)TTL高电平3.6~5Vttl门电路逻辑功能及参数的测试,低电平0V~2.4V
CMOS电平Vcc可达到12V
CMOS电路输出高电平约为0.9Vcc,而输出低电平约为
0.1Vcc。
CMOS电路不使用ttl门电路逻辑功能及参数的测试的输入端不能悬空,会造成逻辑混乱。
TTL电路不使用的输入端悬空为高电平
另外,CMOS集成电路电源电压可以在较大范围内变化,因而对电源的要求不像TTL集成电路那样严格。
用TTL电平他们就可以兼容
(二)TTL电平是5V,CMOS电平一般是12V。
因为TTL电路电源电压是5V,CMOS电路电源电压一般是12V。
5V的电平不能触发CMOS电路,12V的电平会损坏TTL电路,因此不能互相兼容匹配。
CMOS是场效应管构成,TTL为双极晶体管构成
COMS的逻辑电平范围比较大(5~15V),TTL只能在5V下工作
CMOS的高低电平之间相差比较大、抗干扰性强,TTL则相差小,抗干扰能力差
CMOS功耗很小,TTL功耗较大(1~5mA/门)
CMOS的工作频率较TTL略低,但是高速CMOS速度与TTL差不多相当。
功耗
TTL门电路的空载功耗与CMOS门的静态功耗相比,是较大的,约为数十毫瓦(mw)而后者仅约为几十纳(10-9)瓦;在输出电位发生跳变时(由低到高或由高到低),TTL和CMOS门电路都会产生数值较大的尖峰电流,引起较大的动态功耗。
数字逻辑实验中怎么检验芯片好坏??
首先检查其外形是否完整ttl门电路逻辑功能及参数的测试,有无引脚脱落或者其ttl门电路逻辑功能及参数的测试他损坏情况。之后可以接入电路ttl门电路逻辑功能及参数的测试,选择记录输入、输出波形,并对波形进行分析。运用逻辑电平,通过电平判断ttl门电路逻辑功能及参数的测试;两种方式来判断。
主要内容ttl门电路逻辑功能及参数的测试:利用示波器测量TTL脉冲信号的基本参数,掌握脉冲信号波形参数基本概念及测量方法,掌握信号源和示波器的基本使用方法。
扩展资料:
用数字信号完成对数字量进行算术运算和逻辑运算的电路称为数字电路,或数字系统。由于它具有逻辑运算和逻辑处理功能,所以又称数字逻辑电路。现代的数字电路由半导体工艺制成的若干数字集成器件构造而成。逻辑门是数字逻辑电路的基本单元。存储器是用来存储二值数据的数字电路。从整体上看,数字电路可以分为组合逻辑电路和时序逻辑电路两大类。
参考资料来源:百度百科-数字逻辑电路
数字逻辑实验报告的实验总结应该怎样写啊
给个模板吧。
实验题目: 基本逻辑门逻辑功能测试及应用
姓名:___________ 学号:______
班级: ___________ 组别: ________
合作者: _________________
指导教师:
实验概述
【实验目的及要求】
1、实验目的
1) 掌握基本逻辑门的功能及验证方法。
2) 学习TTL基本门电路的实际应用。
3) 掌握逻辑门多余输入端的处理方法。
4) 掌握组合逻辑电路的设计与测试方法
2、实验要求
利用TDS-4数字系统综合实验平台测试基本逻辑门的功能,根据实验原理设计一个组合电路,并进行测试分析。
1) 总结TTL门电路多余输入端的处理方法。
2) 通过本次实验总结TTL及CMOS器件的特点及使用的收获和体会。
3) TTL与非门的输入端悬空可视为逻辑“1”吗ttl门电路逻辑功能及参数的测试?有何缺点?
4) 如果与非门的一个输入端接连续脉冲,其余端是何状态允许脉冲通过?是何状态禁止脉冲通过?
5) 欲使一个异或门实现非逻辑,电路将如何连接?为什么说异或门是可控反相器?
【实验原理】
数字电路中,最基本的逻辑门可归结为与门、或门和非门。实际应用时,它们可以独立使用,但用的更多的是经过逻辑组合组成的复合门电路。目前广泛使用的门电路有TTL门电路和CMOS门电路。
1、TTL门电路
TTL门电路是数字集成电路中应用最广泛的,由于其输入端和输出端的结构形式都采用了半导体三极管,所以一般称它为晶体管-晶体管逻辑电路,或称为TTL电路。这种电路的电源电压为+5V,高电平典型值为3.6V(≥2.4V合格)ttl门电路逻辑功能及参数的测试;低电平典型值为0.3V(≤0.45合格)。常见的复合门有与非门、或非门、与或非门和异或门。
有时门电路的输入端多余无用,因为对TTL电路来说,悬空相当于“1”,所以对不同的逻辑门,其多余输入端处理方法不同。
(1)TTL与门、与非门的多余输入端的处理
如图1-1为四输入端与非门,若只需用两个输入端A和B,那么另两个多余输入端的处理方法是:
并联 悬空 通过电阻接高电平
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图1-1 TTL与门、与非门多余输入端的处理
并联、悬空或通过电阻接高电平使用,这是TTL型与门、与非门的特定要求,但要在使用中考虑到,并联使用时,增加了门的输入电容,对前级增加容性负载和增加输出电流,使该门的抗干扰能力下降;悬空使用,逻辑上可视为“1”,但该门的输入端输入阻抗高,易受外界干扰;相比之下,多余输入端通过串接限流电阻接高电平的方法较好。
(2)TTL或门、或非门的多余输入端的处理
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如图1-2为四输入端或非门,若只需用两个输入端A和B,那么另两个多余输入端的处理方法是:并联、接低电平或接地。
并联 低电平或接地
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图1-2 TTL或门、或非门多余输入端的处理
(3)异或门的输入端处理
异或门是由基本逻辑门组合成的复合门电路。如图3.2.3为二输入端异或门,一输入端为A,若另一输入端接低电平,则输出仍为A;若另一输入端接高电平,则输出为A,此时的异或门称为可控反相器。
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图1-3 异或门的输入端处理
在门电路的应用中,常用到把它们“封锁”的概念。如果把与非门的任一输入端接地,则该与非门被封锁;如果把或非门的任一输入端接高电平,则该或非门被封锁。
由于TTL电路具有比较高的速度,比较强的抗干扰能力和足够大的输出幅度,在加上带负载能力比较强,因此在工业控制中得到了最广泛的应用,但由于TTL电路的功耗较大,目前还不适合作大规模集成电路。
【实验环境】
1、THD-4型数字电路实验箱
2、器材: 74LS00 四-2输入与非门
74LS32 二输入四或门
74LS86 四-2输入异或门
74LS08 74LS04
实验内容
【实验方案设计】
1、TTL与非门的逻辑功能及应用
芯片的引脚号查法是面对芯片有字的正面,从缺口处的下方(左下角),逆时针从1数起。芯片要能工作,必须接电源和地。本实验所用与非门集成芯片为74LS00四-二输入与非门,其引脚排列如图1-4所示。
图1-4 74LS00引脚排列
(1) 测试74LS00四-2输入与非门的逻辑功能
(2) 用74LS00实现或逻辑:,写出转换过程逻辑函数式,画出标明引脚的逻辑电路图,测试其逻辑功能,观测实验结果。
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采用74LS00实现以上逻辑函数的电路如下图所示:
(3) 用74LS00实现下表所示的逻辑函数。写出设计函数式,画出标明引脚的逻辑电路图,并验证之。
输入输出输入输出A B CYA B CY0 0 00 0 10 1 00 1 100011 0 01 0 11 1 01 1 10011
(请在此处写出逻辑表达是并根据上面的例子画出电路图, 如果用Word画图不方便,可以先画在纸上,拍照后粘贴在此处)
2. 用74LS86设计一个四位二进制取反电路。写出设计函数式,列出功能表,画出标明引脚的逻辑电路图,并通过实验验证之。
(请在此处写出逻辑表达是并根据上面的例子画出电路图, 如果用Word画图不方便,可以先画在纸上,拍照后粘贴在此处)
3. 用与非、与、或等基本逻辑门设计一个无弃权三通路表决器,既当输入为两个1时输出为1。
(请在此处写出逻辑表达是并根据上面的例子画出电路图, 如果用Word画图不方便,可以先画在纸上,拍照后粘贴在此处)
【实验过程】(实验步骤、记录、数据、分析)
1. 选用了74LS00一个与非门,将其输入端A和B分别接至电平输出器插孔,由电平输出控制开关控制所需电平值,扳动开关给出四种组合输入。将输出端接至发光二极管的输入插孔,并通过发光二极管的亮和灭来观察门的输出状态。其逻辑函数式为:,观测结果如下:
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表1 与非门逻辑功能测试表
A BY0 00 11 01 1
2. 采用74LS00搭建了的逻辑电路,并测试了逻辑或的功能,其测试结果如表1-2所示:
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表1-2 或逻辑功能测试表
输入输出A BY0 00 11 01 1
3. 采用74LS00设计一个无弃权三通路表决器
小结
写一个不少于3行的小结,谈谈实验的收获。
评价ttl逻辑门电路的驱动能力的参数
门电路的逻辑功能和参数测试 1、掌握TTL 器件的使用规则。 2、掌握TTL 集成与非门的逻辑功能。
关于ttl门电路逻辑功能及参数的测试和的介绍到此就结束了,不知道你从中找到你需要的信息了吗 ?如果你还想了解更多这方面的信息,记得收藏关注本站。
标签: ttl门电路逻辑功能及参数的测试
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